ESD/EMS/EMIの可視化測定を可能にする唯一のソリューション
SmartScanは、EMC分野における先進研究機関の
ミズーリ工科大学の研究に基づき開発された、
米国API社（Amber Precision Instruments）の製品です。
機能一覧FUNCTIONS
電子機器の高機能化・複雑化に伴い、電磁ノイズや静電気による誤作動、周辺機器や人体への影響が大きな課題となっています。
APIのSmartScanシリーズは、EMC対策における原因特定と可視化を可能にし、問題解決の精度とスピードを大幅に向上。
開発期間の短縮やコスト削減に加え、社内に対策ノウハウを蓄積できる強力なソリューションです。
エミッション対策
近傍界スキャン
- 10kHz～40GHzまで測定可能
- 磁界/電界の測定が可能
- 最小0.1mmの分解能に対応
- 多種多様な測定器のドライバに対応
位相測定
- 基準プローブと測定プローブとの位相を基に、ノイズの影響範囲を推定可能
- CST/HFSSへデータ出力し、シミュレーションモデルの作成が可能
近傍界・遠方界変換
- 位相測定結果を基に、遠方界を推定可能最小0.1mmの分解能に対応
- 暗室での実測前に遠方界での問題をピンポイントで特定
ノイズ放出源顕微法（ESM）
- SAR（合成開口レーダー）技術のEMCへの応用
- 遠方界ノイズ源の確認と遠方界予測（5GHz以上）
イミュニティ対策
ESD/RFスキャン
- ESDとRFの耐性マップを生成
- TLPでガンの波形を再現しESDの問題を可視化
- FDを使用し測定を完全自動化
- ±8KVまで出力可能
共振スキャン
- 共振構造の確認と共振周波数
- 妨害と反応測定のためのシングルプローブ
電流可視化
- 電流フローの可視化
- システムESD解析
- ICクランプ性能の確認
- 対策部品の効果測定
ロボットESDガンテスター
- 自動不具合検出性能を搭載した完全自動ESDガンテスター
- 角度・距離を高精度制御
- 印加ポイントを自動走査
原因不明な動作不良を即解決CASE STUDY
- 時間短縮
- コスト削減
電波暗室いらず。
認証試験前のEMIトラブルを徹底予測！
SmartScanなら、近傍界の位相測定結果をもとに遠方界の放射を予測可能。測定データを基にした解析で高精度な予測が可能なため、認証試験前に潜在的なEMIリスクを洗い出せます。
電波暗室の予約待ち時間や再試験のコストを大幅に削減し、従来では難しかった“認証前の見える化”をSmartScanで実現します。
- コスト削減
- ノウハウ蓄積
ESD対策部品の最適選定で
品質アップとコスト削減を両立
SmartScanは、ESD印加後の電流の流れを高精度に可視化することで、従来は把握が難しかったイミュニティの弱点や過剰対策を“見える化”します。たとえば、同一基板に異なるメーカーのTVSを実装し、電流の侵入度合いを比較することで、最適な部品の選択が可能になります。
さらに、“おまじない”的に追加されたコンデンサの効果も定量的に検証できるため、不要部品を排除しつつ、基板の小型化やコスト削減、対策の信頼性向上に貢献します。
- 品質向上
- ノウハウ蓄積
最小0.1mmの分解能で、
ESD・RF耐量をピンポイントに可視化
最小0.1mmの分解能で、これまで可視化が困難だったESDやRFの耐量を可視化し、ウイークポイントをピンポイントで特定できるようになります。ロットごとの品質ばらつきなど、量産段階で発生する不具合の原因究明にも威力を発揮し、設計品質の安定化に貢献します。
- 品質向上
- ノウハウ蓄積
実機測定とシミュレーション連携での
品質・精度アップ!
SmartScanの位相測定機能を活用することで、実測データを基にシミュレーションモデルを作成することが可能です。たとえば、ICの位相を測定した後、位相データをCSTやHFSSなどの電磁界シミュレーションで使用できるIECフォーマットとして出力できます。この機能により、これまで困難だったカスタムICのシミュレーションモデルの作成も可能になります。
（※ Googleも、この機能を活用しています）
- 時間短縮
- 精度向上
ロボットによる高精度な再現性！
ガン試験の完全自動化
SmartScanは、ロボットによるESDガン試験の完全自動化に対応しています。角度・距離・印加速度を一定に保ち、繰り返し再現性のあるESD試験を実施可能。ガンチップの交換や除電、DUTの配置変更なども自動で制御できます。これまで人に依存していた測定誤差や作業負担を解消し、高い信頼性のデータ取得を実現。省力化と精度向上を両立する、新しい評価環境を提供します。
測定事例MEASUREMENT EXAMPLE
フォトフレーム基板にて、ESD問題が発生
SmartScan ESD
基板を動作中にESDを印加し、フォトフレーム基板の電源周りに脆弱性を確認。
赤色箇所:1kvで動作停止
青色箇所:3kvで動作停止
制御基板にて、ESD問題が発生
SmartScan CS（電流拡散トレース）
基板を動作させない状態で、電源にTLP出力の200Vパルスを印加し、近傍界プローブで磁界をスキャン。コネクタからの配線にESDが乗り、ICに侵入していることを確認（赤丸内）。
製品ラインアップPRODUCT LINEUP
SmartScan 350
APIの主力となるメインのハードウェアプラットフォーム（卓上モデル）です。
- 測定可能DUTサイズ
- A4
SmartScan 550
APIの主力となるメインのハードウェアプラットフォーム（自立型モデル）です。
- 測定可能DUTサイズ
- A3
SmartScan-L
スライド式を採用したリーズナブルなSmartScan モデル。
- 測定可能DUTサイズ
- A4
SmartScan350の廉価版
SmartScan3D
6軸ロボットを使用し、平面だけではなく6方向から測定することが可能です。
*サーバーラックのような大きなDUTも対応可。
- 測定可能DUTサイズ
- ロボットにより変更可能
要相談
SmartZap
全自動のロボットESDガンテスターです。内蔵されている導電性ブラシが、DUT（テストデバイス）の残留電荷を除去します。
- 測定可能DUTサイズ
- 静電気試験自動化
ISO 10605対応
SmartScan Manual
場所を選ばずハンドスキャン。
EMI、ESDの両方に対応している廉価版のスキャナです。
- 測定可能DUTサイズ
- 300mm x 300mm
SS350/SS550/SS-L用ミニチャンバー
外部ノイズを遮断し、内部での電波反射を防ぐ無響環境を提供するとともに、信号電波を外部に漏洩させない電波暗箱（シールドボックス）です。
- 主なメリット
-
- 電波暗室に比べ安価に導入可能
- キャスター付きなので、場所を選ばず測定可能
TLP/FD(静電気印加装置/エラー判定装置)
- API社独自のTLPを使用することにより、輻射をなくして対象の箇所にピンポイントで印加を実施することができます。
- TLPから±8KVまで出力可能
-
立ち上がり500psの短パルスを発生させ疑似的にESDガンの波形を再現できます。
- ps〜nsオーダーの短パルスであるため、熱破壊を起こさずに連続印加が可能
- ESDガンと異なり輻射が発生しないため、再現性の高い印加試験が実施可能
- ANSI/ESD SP14.5-2015に対応
- ps〜nsオーダーの短パルスであるため、熱破壊を起こさずに連続印加が可能です。また、ESDガンと異なり輻射が発生しないため、再現性の高い印加試験が実施できます。
- ANSI/ESD SP14.5-2015に対応しています。
- FDを使用することで、アナログ、デジタル、センサーポートにおける物理的なエラー検知や、ソフトウェアのリセットフラグなどをエラーとして検知することにより、ESDの耐量を可視化できます。
- マクロを活用することで、全自動化も可能です。
プローブ（EMI Probes/ESD Probes）
- 0KHz〜40GHzまで対応可能な、多種多様な磁界・電界プローブを取り揃えています。
- 業界唯一の電界のxyプローブにより、電界の方向性も確認可能です。
- ESD印加用のプローブも備えており、ESDに関する問題をピンポイントで解決できます。
- その他のカスタムプローブもご用意しております。必要に応じてご相談ください。
- SmartScanは、EMC分野における先進研究機関のミズーリ工科大学の研究に基づき開発された、米国API社（Amber Precision Instruments）の製品です。